碳纳米管常见的表征方法
扫描电子显微镜(SEM):
通过SEM研究了氟化温度对FCNTA-TF形貌和结构的影响。在相对较低的氟化温度(350°C和400°C)下制备的样品更好地保持了阵列结构,并且碳纳米管的排列相对致密。在较高的氟化温度(500°C和525°C)下,样品的结构发生了一些变化,这主要反映在碳纳米管的直径和长度的减小。这是由于氟气体的反应性随着氟化温度的升高而增加,碳层与母管分离,导致碳管直径减小。在氟化过程中,纳米管上的一些氟原子沿纳米管的径向以1,2-键的形式生长,一些C-C键被破坏形成C-F键,这可能会缩短纳米管的长度。